Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Ձևաչափ:
Conference item
Հրապարակվել է:
1991
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
: Ahmed, J, և այլն
Հրապարակվել է: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
: Ahmed, J, և այլն
Հրապարակվել է: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
: Czernuszka, J, և այլն
Հրապարակվել է: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
: Czernuszka, J, և այլն
Հրապարակվել է: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1994)