Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Format:
Conference item
Wydane:
1991
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Podobne zapisy
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
od: Ahmed, J, i wsp.
Wydane: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
od: Ahmed, J, i wsp.
Wydane: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
od: Czernuszka, J, i wsp.
Wydane: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
od: Czernuszka, J, i wsp.
Wydane: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
od: Wilkinson, A, i wsp.
Wydane: (1994)