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Avançada
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
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ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Detalhes bibliográficos
Principais autores:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Formato:
Conference item
Publicado em:
1991
Itens
Descrição
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Registro fonte
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ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
por: Czernuszka, J, et al.
Publicado em: (1991)
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por: Czernuszka, J, et al.
Publicado em: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
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Publicado em: (1994)