Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Бібліографічні деталі
Автори:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Формат:
Conference item
Опубліковано:
1991
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
за авторством: Ahmed, J, та інші
Опубліковано: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
за авторством: Ahmed, J, та інші
Опубліковано: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
за авторством: Czernuszka, J, та інші
Опубліковано: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
за авторством: Czernuszka, J, та інші
Опубліковано: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (1994)