Czernuszka, J., Long, N., & Hirsch, P. (1991). ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd.
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերումCzernuszka, J., N. Long, and P. Hirsch. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd, 1991.
MLA (9րդ խմբ.) ՄեջբերումCzernuszka, J., et al. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd, 1991.
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.