Czernuszka, J., Long, N., & Hirsch, P. (1991). ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Czernuszka, J., N. Long, i P. Hirsch. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd, 1991.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Czernuszka, J., et al. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd, 1991.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..