Czernuszka, J., Long, N., & Hirsch, P. (1991). ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Czernuszka, J., N. Long, e P. Hirsch. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd, 1991.
Citação MLA (9ª ed.)Czernuszka, J., et al. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. Publ by Inst of Physics Publ Ltd, 1991.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.