Multiple scattering simulation of electron channelling contrast images of dislocations at interfaces

Multiple scattering simulation of electron channelling contrast images of dislocations at interfaces

Quantum-mechanical multiple scattering theory of electron backscattering from crystalline materials is applied to simulate channelling images of dislocations situated near the surface of a crystal. A computational algorithm is developed which uses perturbation expansion of the solution of an inhomog...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Dudarev, S, Czernuszka, J, Peng, L, Wilkinson, A, Whelan, M
Формат:	Conference item
Опубліковано:	1995

Схожі ресурси

Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (1994)

ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
за авторством: Czernuszka, J, та інші
Опубліковано: (1991)

Quantitative simulations of electron channelling patterns and electron backscattering from crystals
за авторством: Dudarev, S, та інші
Опубліковано: (1994)

ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (1993)

THE EFFECTS OF SURFACE STRESS-RELAXATION ON ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGES OF DISLOCATIONS
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (1995)

Simulations of electron diffraction contrast images of nanometer-sized dislocation loops
за авторством: Zhou, Z, та інші
Опубліковано: (2004)

Examination of dislocation substructures in fatigued Cu using electron channelling contrast imaging
за авторством: Ahmed, J, та інші
Опубліковано: (1999)

Electron channeling and ion channeling contrast imaging of dislocations in nitride thin films
за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
Опубліковано: (2008)

Electron channelling contrast imaging of dislocation substructures in the vicinity of short fatigue cracks in Cu
за авторством: Ahmed, J, та інші
Опубліковано: (1998)

Characterizing dislocation structure evolution during cyclic deformation using electron channelling contrast imaging
за авторством: Ahmed, J, та інші
Опубліковано: (2006)

Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
Опубліковано: (2007)

Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
за авторством: Ahmed, J, та інші
Опубліковано: (1999)

ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (1993)

REFLECTION ELECTRON-MICROSCOPY OBSERVATIONS OF DISLOCATIONS AND DISLOCATION-MOTION IN ZINC-OXIDE
за авторством: Peng, L, та інші
Опубліковано: (1991)

Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
за авторством: Ahmed, J, та інші
Опубліковано: (1997)

ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
за авторством: Czernuszka, J, та інші
Опубліковано: (1991)

ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
за авторством: Czernuszka, J, та інші
Опубліковано: (1991)

Diffraction imaging and diffuse scattering by small dislocation loops
за авторством: Zhou, Z, та інші
Опубліковано: (2007)

Visualization of dislocations through electron channeling contrast imaging at fatigue crack tip, interacting with pre-existing dislocations
за авторством: Kishan Habib, та інші
Опубліковано: (2018-01-01)

Electron channelling contrast imaging characterization of dislocation structures associated with extrusion and intrusion systems and fatigue cracks in copper single crystals
за авторством: Ahmed, J, та інші
Опубліковано: (2001)

TEM diffraction contrast images simulation of dislocations
за авторством: WU, W., та інші
Опубліковано: (2022)

TEM diffraction contrast images simulation of dislocations
за авторством: WU, W., та інші
Опубліковано: (2022)

Decoherence in electron backscattering by kinked dislocations.
за авторством: Dudarev, S, та інші
Опубліковано: (1999)

Decoherence in electron backscattering by kinked dislocations
за авторством: Dudarev, S, та інші
Опубліковано: (1999)

Simulations of weak-beam diffraction contrast images of dislocation loops by the many-beam Howie-Basinski equations
за авторством: Zhou, Z, та інші
Опубліковано: (2006)

IMAGING OF DISLOCATIONS USING BACKSCATTERED ELECTRONS IN A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
за авторством: Czernuszka, J, та інші
Опубліковано: (1990)

Diffuse elastic scattering of electrons by individual nanometer-sized dislocation loops
за авторством: Kirk, M, та інші
Опубліковано: (2006)

Simulations of electron elastic diffuse scattering patterns from individual nanometre-sized dislocation loops. I. Kinematical methodology
за авторством: Zhou, Z, та інші
Опубліковано: (2005)

Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2011)

Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2011)

CATHODOLUMINESCENCE-MODE IMAGING OF DISLOCATIONS IN ZINC-OXIDE
за авторством: Czernuszka, J, та інші
Опубліковано: (1990)

Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2016)

The Effect of Dislocation and Interface-Roughness Scattering on Electron Mobility in the MgZnO/ZnO Heterostructure
за авторством: DongFeng Liu
Опубліковано: (2022-01-01)

Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
Опубліковано: (2006)

Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
за авторством: Trager-Cowan, C, та інші
Опубліковано: (2006)

Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Use of back-scattered electron imaging for phase identification in vacuum plasma sprayed hydroxyapatite coatings
за авторством: Hambleton, R, та інші
Опубліковано: (1994)

EFFECT OF SURFACE-CHARGE ON THE DISLOCATION MOBILITY IN SEMICONDUCTORS
за авторством: Czernuszka, J
Опубліковано: (1989)

EFFECT OF SURFACE-CHARGE ON THE DISLOCATION MOBILITY IN SEMICONDUCTORS
за авторством: Czernuszka, J
Опубліковано: (1989)

Simulation of channeling contrast in scanning ion microscope images
за авторством: Kaoru Ohya
Опубліковано: (2018-01-01)