$Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction$

Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction

This paper concerns the determination of small misorientations using electron back scatter diffraction (EBSD). Generally EBSD is used to measure crystal orientations from which misorientations can be calculated. Repeated measurements on undeformed Si showed that the calculated misorientations have a...

תיאור מלא

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Wilkinson, A
פורמט:	Conference item
יצא לאור:	1999

פריטים דומים

A new method for determining small misorientations from electron back scatter diffraction patterns
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (2001)

Strain measurement using electron back scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (1998)

Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (1996)

Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2009)

Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2006)

Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (2011)

Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2011)

Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2010)

Study of the Effect of Grain-Boundary Misorientation on Slip Transfer in Magnesium Alloy Using a Misorientation Distribution Map
מאת: Jie Sun, et al.
יצא לאור: (2022-03-01)

High resolution electron back-scatter diffraction analysis of thermally and mechanically induced strains near carbide inclusions in a superalloy
מאת: Karamched, P, et al.
יצא לאור: (2011)

Electron Backscatter Diffraction Analysis of Low-Misorientation-Angle Boundary and High-Energy Boundary in the Hot-Rolled Plate of Grain-Orientated Silicon Steel
מאת: Xiang Zou, et al.
יצא לאור: (2024-10-01)

QUANTITATIVE DEFORMATION STUDIES USING ELECTRON BACK SCATTER PATTERNS
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (1991)

Crystal characteristics of fibrous calcite veins based on Electron Back Scattered Diffraction (EBSD)
מאת: Lanquan ZHAO, et al.
יצא לאור: (2022-03-01)

Grain boundary misorientation and thermal grooving in cube-textured Ni and Ni-Cr tape
מאת: Gladstone, T, et al.
יצא לאור: (2001)

Assessment of Deformation Twinning in Cold Rolled Austenitic Stainless Steels with Electron Back Scatter Diffraction
מאת: I. I. Ahmed, et al.
יצא לאור: (2014-06-01)

Assessment of Deformation Twinning in Cold Rolled Austenitic Stainless Steels with Electron Back Scatter Diffraction
מאת: I. I. Ahmed, et al.
יצא לאור: (2014-06-01)

Diffraction imaging and diffuse scattering by small dislocation loops
מאת: Zhou, Z, et al.
יצא לאור: (2007)

Misorientation and dislocation evolution in rapid residual stress relaxation by electropulsing
מאת: Bhowmik, Ayan, et al.
יצא לאור: (2024)

Application of Technologies of Misorientation Protection and Compulsory Deceleration of Mine Hoist
מאת: SHEN Zhan-bin, et al.
יצא לאור: (2010-11-01)

Quantitative characterization of Zr60700 alloy plate rolling in different directions based on electron back-scatter diffraction
מאת: Jin Zhang, et al.
יצא לאור: (2024-05-01)

Influence of CVD diamond growth conditions and misorientation angle on nitrogen incorporation
מאת: Lobaev M.A., et al.
יצא לאור: (2017-01-01)

A continuous and one-to-one coloring scheme for grain boundary misorientations
מאת: Patala, Srikanth, et al.
יצא לאור: (2016)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
מאת: Dingley, D, et al.
יצא לאור: (2010)

Azimuthal correlations in diffractive scattering at the Electron-Ion Collider
מאת: Adrian Dumitru, Heikki Mäntysaari, Risto Paatelainen, Kaushik Roy, Farid Salazar, Björn Schenke
יצא לאור: (2022-07-01)

The preferred CSL misorientation distribution in polycrystalline SrTiO3.
מאת: Park, M, et al.
יצא לאור: (2007)

Effects of Grain Boundary Misorientation Angle on the Mechanical Behavior of Al Bicrystals
מאת: Wilmer Velilla-Díaz, et al.
יצא לאור: (2023-11-01)

Spindle Misorientation of Cerebral and Cerebellar Progenitors Is a Mechanistic Cause of Megalencephaly
מאת: Huaibiao Li, et al.
יצא לאור: (2017-10-01)

Measurement of the diffractive cross section in deep inelastic scattering
מאת: Derrick, M, et al.
יצא לאור: (1996)

Inclusive measurement of diffractive deep-inelastic ep scattering
מאת: Adloff, C, et al.
יצא לאור: (1997)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
מאת: Kamaya, M, et al.
יצא לאור: (2005)

The scattering and diffraction of waves /
מאת: King, Ronold Wyeth Percival, 1905-, et al.
יצא לאור: (1959)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (2006)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2009)

Diffractive deeply inelastic scattering in future electron-ion colliders
מאת: D. Bendova, et al.
יצא לאור: (2021-03-01)

Elastic and diffractive scattering at the LHC
מאת: V.A. Khoze, et al.
יצא לאור: (2018-09-01)

Probing local strain fields using electron diffraction in the scanning electron microscope
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (1997)

Effect of misorientation of grain boundaries on the discontinuous precipitates of Cu–Ni–Si alloy
מאת: Xianfeng Liao, et al.
יצא לאור: (2023-09-01)

Finite Element Modelling of the Effects of Average Grain Size and Misorientation Angle on the Deformation
מאת: K Sanusi, et al.
יצא לאור: (2016-09-01)

The initial corrosion behavior of Al–Cu–Li bicrystals: effect of misorientation and precipitates
מאת: Feng Wen, et al.
יצא לאור: (2022-05-01)