Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
This paper concerns the determination of small misorientations using electron back scatter diffraction (EBSD). Generally EBSD is used to measure crystal orientations from which misorientations can be calculated. Repeated measurements on undeformed Si showed that the calculated misorientations have a...
Tác giả chính: | Wilkinson, A |
---|---|
Định dạng: | Conference item |
Được phát hành: |
1999
|
Những quyển sách tương tự
-
A new method for determining small misorientations from electron back scatter diffraction patterns
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (2001) -
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (1998) -
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (1996) -
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2009) -
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2006)