Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction

This paper concerns the determination of small misorientations using electron back scatter diffraction (EBSD). Generally EBSD is used to measure crystal orientations from which misorientations can be calculated. Repeated measurements on undeformed Si showed that the calculated misorientations have a...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Wilkinson, A
Định dạng: Conference item
Được phát hành: 1999

Những quyển sách tương tự