Wellman, J., George, T., Leon, R., Fafard, S., Zou, J., & Cockayne, D. (1999). Transmission electron microscopy study of InGaAs/GaAs structural evolution near the Stranski-Krastanow transformation.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Wellman, J., T. George, R. Leon, S. Fafard, J. Zou, و D. Cockayne. Transmission Electron Microscopy Study of InGaAs/GaAs Structural Evolution Near the Stranski-Krastanow Transformation. 1999.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Wellman, J., et al. Transmission Electron Microscopy Study of InGaAs/GaAs Structural Evolution Near the Stranski-Krastanow Transformation. 1999.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.