Rasche, B., & Ruck, M. (2018). High-temperature-phase Bi4RhI2: Electronic localization by structural distortion. American Chemical Society.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Rasche, B., и M. Ruck. High-temperature-phase Bi4RhI2: Electronic Localization by Structural Distortion. American Chemical Society, 2018.
Цитирование MLA (9-е изд.)Rasche, B., и M. Ruck. High-temperature-phase Bi4RhI2: Electronic Localization by Structural Distortion. American Chemical Society, 2018.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.