Two-dimensional wavefront characterization of adaptable corrective optics and Kirkpatrick-Baez mirror system using ptychography
Aberrations introduced during fabrication degrade the performance of X-ray optics and their ability to achieve diffraction limited focusing. Corrective optics can counteract these errors by introducing wavefront perturbations prior to the optic which cancel out the distortions. Here we demonstrate t...
প্রধান লেখক: | Moxham, TEJ, Dhamgaye, V, Laundy, D, Fox, OJL, Khosroabadi, H, Sawhney, K, Korsunsky, AM |
---|---|
বিন্যাস: | Journal article |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
Optica Publishing Group
2022
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Aberration characterization of x-ray optics using multi-modal ptychography and a partially coherent source
অনুযায়ী: Moxham, TEJ, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2021) -
Hard X-ray ptychography for optics characterization using a partially coherent synchrotron source
অনুযায়ী: Moxham, TEJ, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Wavefront analysis and phase correctors design using SHADOW
অনুযায়ী: Hossein Khosroabadi, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2024-05-01) -
Kirkpatrick-Baez mirrors commissioning for coherent scattering and imaging endstation at SXFEL
অনুযায়ী: Yajun Tong, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2022-08-01) -
Design and testing of a Kirkpatrick-Baez optics variation
অনুযায়ী: Stieglitz Veronika, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2022-01-01)