Strain and defect microstructure in ion-irradiated GeSi/Si strained layers as a function of annealing temperature

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Glasko, J, Elliman, R, Zou, J, Cockayne, D, Gerald, F
Ձևաչափ:	Journal article
Հրապարակվել է:	1998

Նմանատիպ նյութեր