GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS

GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)

Selected results from a TEM study of copper precipitation at extended surface defects in silicon are reported. The relative getting effectiveness of surface pits, oxidation induced stacking faults, and their bounding partials is compared. Copper-silicide precipitate colonies on {111} planes are obse...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Decoteau, M, Wilshaw, P, Falster, R
Ձևաչափ:	Journal article
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	Publ by Inst of Physics Publ Ltd 1991

Նմանատիպ նյութեր

GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
‌: Decoteau, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1991)

GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
‌: Decoteau, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1992)

PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
‌: Decoteau, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1991)

GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
‌: Decoteau, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1990)

GETTERING IN SILICON
‌: Falster, R
Հրապարակվել է: (1989)

Cathodoluminescence assessment of low temperature gettering in silicon and a novel technique for estimating bulk minority carrier lifetime in silicon
‌: Fraser, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2008)

Efficient, room-temperature, near-band gap luminescence by gettering in ion implanted silicon
‌: Stowe, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)

Getters in silicon
‌: Vyacheslav A. Kharchenko
Հրապարակվել է: (2019-03-01)

Oxygen precipitate studies in silicon for gettering in solar cell applications
‌: Salomon, Ashley
Հրապարակվել է: (2018)

ELECTRON-BEAM-INDUCED ACTIVITY OF DEFECTS IN SILICON
‌: Wilshaw, P, և այլն
Հրապարակվել է: (1994)

Gettering defects in semiconductors /
‌: 386064 Perevostchikov V. A., և այլն
Հրապարակվել է: (2005)

Atom probe Tomography of fast-diffusing impurities and the effect of gettering in multicrystalline silicon
‌: Tweddle, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2018)

Onset of slip in silicon containing oxide precipitates
‌: Jurkschat, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2001)

High-Performance and Traditional Multicrystalline Silicon: Comparing Gettering Responses and Lifetime-Limiting Defects
‌: Ekstrom, Kai E., և այլն
Հրապարակվել է: (2018)

Exceptional gettering response of epitaxially grown kerfless silicon
‌: Markevich, V. P., և այլն
Հրապարակվել է: (2018)

EBIC INVESTIGATIONS OF DISLOCATIONS AND THEIR INTERACTIONS WITH IMPURITIES IN SILICON
‌: Fell, T, և այլն
Հրապարակվել է: (1993)

Detecting and gettering chromium impurities in photovoltaic crystalline silicon
‌: Jensen, Mallory Ann
Հրապարակվել է: (2015)

Saw damage gettering for industrially relevant mc‐Si feedstock
‌: Shaw, E, և այլն
Հրապարակվել է: (2017)

Simulation of iron impurity gettering in crystalline silicon solar cells
‌: Powell, Douglas M. (Douglas Michael)
Հրապարակվել է: (2012)

Porous silicon and aluminum co-gettering experiment in p-type multicrystalline silicon substrate
‌: P.N. Vinod
Հրապարակվել է: (2007-01-01)

Improvement of charge carrier lifetime in heat exchange method multicrystalline silicon wafers by extended phosphorous gettering process
‌: D. Bouhafs, և այլն
Հրապարակվել է: (2011-12-01)

Methods and mechanisms of gettering of silicon structures in the production of integrated circuits
‌: Pilipenko V. A., և այլն
Հրապարակվել է: (2013-05-01)

Electron beam induced current investigations of transition metal impurities at extended defects in silicon
‌: Wilshaw, P, և այլն
Հրապարակվել է: (1995)

Effects of Phosphorus Diffusion on Gettering of Metal Impurities in UMG Silicon Wafers
‌: Sung Yean Yoon, և այլն
Հրապարակվել է: (2013-01-01)

The Physical mechanisms of gettering properties of nickel clusters in silicon solar cells
‌: Zoir Kenzhaev, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-06-01)

DLTS characterization of aluminum gettering of iron contaminants in boron-doped silicon
‌: Thienprasit, Jeanne A. (Jeanne Athya)
Հրապարակվել է: (2005)

Cathodoluminescence assessment of annealed silicon and a novel technique for estimating minority carrier lifetime in silicon
‌: Fraser, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Regularities of microdefect formation in silicon during heat treatment for internal getter synthesis
‌: Vladimir T. Bublik, և այլն
Հրապարակվել է: (2019-09-01)

Transition metal gettering studies and simulation for the optimization of silicon photovoltaic device processing
‌: Smith, Aimée Louise, 1971-
Հրապարակվել է: (2005)

Evaluation of Hydrogen Gettering Rates Correlated to Surface Composition and Texture of Nickel-Plated Zircaloy Getters of Different Heat Treatment Procedures
‌: Ewa C. E. Rönnebro, և այլն
Հրապարակվել է: (2023-01-01)

Effective lifetimes exceeding 300 μs in gettered p-type epitaxial kerfless silicon for photovoltaics
‌: Powell, D. M., և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

The segregation behaviour of oxygen at dislocations in silicon
‌: Senkader, S, և այլն
Հրապարակվել է: (1999)

Locking of dislocations by oxygen in Cz-silicon
‌: Senkader, S, և այլն
Հրապարակվել է: (1999)

Finite- vs. infinite-source emitters in silicon photovoltaics: Effect on transition metal gettering
‌: Vahanissi, Ville, և այլն
Հրապարակվել է: (2018)

High resolution deep level transient spectroscopy applied to extended defects in silicon
‌: Evans-Freeman, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)

Recombination at oxide precipitates in silicon
‌: Murphy, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Generation of dislocation glide loops in Czochralski silicon
‌: Giannattasio, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2002)

Dislocation locking by nitrogen impurities in FZ-silicon
‌: Giannattasio, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2003)

On the mechanism of recombination at oxide precipitates in silicon
‌: Murphy, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Oxygen-dislocation interactions in silicon at temperatures below 700 degrees C: Dislocation locking and oxygen diffusion
‌: Senkader, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2001)