A dissociation mechanism for the [a plus c] dislocation in GaN
Mixed-type [a+c] dislocations can be identified in atomic-resolution high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscope images of GaN viewed along [0001] by use of a Burgers loop analysis and by observation of the depth-dependent displacements associated with the Eshelby twist....
Հիմնական հեղինակներ: | Nellist, P, Hirsch, P, Rhode, S, Horton, M, Lozano, J, Yasuhara, A, Okunishi, E, Zhang, S, Sahonta, S, Kappers, M, Humphreys, C, Moram, M |
---|---|
Ձևաչափ: | Conference item |
Հրապարակվել է: |
Institute of Physics Publishing
2014
|
Նմանատիպ նյութեր
-
The dissociation of the [a plus c] dislocation in GaN
: Hirsch, P, և այլն
Հրապարակվել է: (2013) -
Observation of depth-dependent atomic displacements related to dislocations in GaN by optical sectioning in the STEM
: Lozano, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2014) -
Growth modes in heteroepitaxy of InGaN on GaN
: Oliver, R, և այլն
Հրապարակվել է: (2005) -
The influence of ammonia on the growth mode in InGaN/GaN heteroepitaxy
: Oliver, R, և այլն
Հրապարակվել է: (2004) -
Direct observation of the core structures of threading dislocations in GaN
: Xin, Y, և այլն
Հրապարակվել է: (1998)