Quantification of grain boundary equilibrium segregation by NanoSIMS analysis of bulk samples
A technique for the quantification of equilibrium grain boundary segregation by high resolution secondary ion mass spectroscopy (NanoSIMS) on simple metallographically polished surfaces has been demonstrated for the model system of sulphur segregation to nickel grain boundaries. Samples of nickel co...
প্রধান লেখক: | Christien, F, Downing, C, Moore, K, Grovenor, C |
---|---|
বিন্যাস: | Journal article |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
2012
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
QUANTITATIVE NANOSIMS ANALYSIS OF GRAIN BOUNDARY SEGREGATION IN BULK SAMPLES
অনুযায়ী: Christien, F, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2012) -
Quantitative grain boundary analysis of bulk samples by SIMS
অনুযায়ী: Christien, F, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013) -
Quantitative grain boundary analysis of bulk samples by SIMS
অনুযায়ী: Christien, F, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013) -
NanoSIMS analysis of arsenic and selenium in cereal grain.
অনুযায়ী: Moore, K, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010) -
NanoSIMS imaging and analysis in materials science
অনুযায়ী: Li, K, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)