Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Neutron and X-ray reflectometr...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Neutron and X-ray reflectometry of interfacial systems in colloid and polymer chemistry
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Thomas, R
,
Penfold, J
Format:
Journal article
Publicat:
1996
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
The origins of neutron reflectometry
per: Majkrzak, C, et al.
Publicat: (2010)
APPLICATIONS OF NEUTRON REFLECTOMETRY IN SURFACE SCIENCE
per: Thomas, R, et al.
Publicat: (1994)
DETERMINATION OF END-ADSORBED POLYMER DENSITY PROFILES BY NEUTRON REFLECTOMETRY
per: Field, J, et al.
Publicat: (1992)
Probing Surfactant Adsorption at the Solid-Solution Interface by Neutron Reflectometry
per: Penfold, J, et al.
Publicat: (2007)
A NEUTRON REFLECTOMETRY STUDY OF THE PRODUCTION OF THIN POLYPHENYLENE FILMS FROM PRECURSOR POLYMER
per: Burgess, A, et al.
Publicat: (1992)