Shaltaf, R., Rignanese, G., Gonze, X., Giustino, F., & Pasquarello, A. (2008). Band offsets at the Si/SiO2 interface from many-body perturbation theory.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Shaltaf, R., G. Rignanese, X. Gonze, F. Giustino, i A. Pasquarello. Band Offsets at the Si/SiO2 Interface from Many-body Perturbation Theory. 2008.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Shaltaf, R., et al. Band Offsets at the Si/SiO2 Interface from Many-body Perturbation Theory. 2008.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..