Стиль цитування APA (7-ме видання)

Shaltaf, R., Rignanese, G., Gonze, X., Giustino, F., & Pasquarello, A. (2008). Band offsets at the Si/SiO2 interface from many-body perturbation theory.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Shaltaf, R., G. Rignanese, X. Gonze, F. Giustino, та A. Pasquarello. Band Offsets at the Si/SiO2 Interface from Many-body Perturbation Theory. 2008.

Стиль цитування MLA (9-ме видання)

Shaltaf, R., et al. Band Offsets at the Si/SiO2 Interface from Many-body Perturbation Theory. 2008.