Wilshaw, P., Wilshaw, P., & Ourmazd, A. (1984). An SEM EBIC study of the electronic properties of dislocations in silicon.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Wilshaw, P., Peter Wilshaw, و A. Ourmazd. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Wilshaw, P., et al. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.