Wilshaw, P., Wilshaw, P., & Ourmazd, A. (1984). An SEM EBIC study of the electronic properties of dislocations in silicon.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Wilshaw, P., Peter Wilshaw, και A. Ourmazd. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Wilshaw, P., et al. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.