Wilshaw, P., Wilshaw, P., & Ourmazd, A. (1984). An SEM EBIC study of the electronic properties of dislocations in silicon.
Chicago-viite (17. p.)Wilshaw, P., Peter Wilshaw, ja A. Ourmazd. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
MLA-viite (9. p.)Wilshaw, P., et al. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.