Wilshaw, P., Wilshaw, P., & Ourmazd, A. (1984). An SEM EBIC study of the electronic properties of dislocations in silicon.
शिकागो शैली (17वां संस्करण) प्रशस्ति पत्रWilshaw, P., Peter Wilshaw, और A. Ourmazd. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
एमएलए (9वां संस्करण) प्रशस्ति पत्रWilshaw, P., et al. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
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