Wilshaw, P., Wilshaw, P., & Ourmazd, A. (1984). An SEM EBIC study of the electronic properties of dislocations in silicon.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Wilshaw, P., Peter Wilshaw, i A. Ourmazd. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Wilshaw, P., et al. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..