Wilshaw, P., Wilshaw, P., & Ourmazd, A. (1984). An SEM EBIC study of the electronic properties of dislocations in silicon.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Wilshaw, P., Peter Wilshaw, e A. Ourmazd. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
Citação MLA (9ª ed.)Wilshaw, P., et al. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.
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