Стиль цитування APA (7-ме видання)

Wilshaw, P., Wilshaw, P., & Ourmazd, A. (1984). An SEM EBIC study of the electronic properties of dislocations in silicon.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Wilshaw, P., Peter Wilshaw, та A. Ourmazd. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.

Стиль цитування MLA (9-ме видання)

Wilshaw, P., et al. An SEM EBIC Study of the Electronic Properties of Dislocations in Silicon. 1984.