Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
Real-space measurements of bon...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Format:
Journal article
Jezik:
English
Izdano:
2009
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
od: Ciston, J, i dr.
Izdano: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
od: Ciston, J, i dr.
Izdano: (2011)
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
od: Kirkland, A, i dr.
Izdano: (2008)
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
od: Kirkland, A, i dr.
Izdano: (2008)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
od: Haigh, S, i dr.
Izdano: (2011)