Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:	Ciston, J, Haigh, S, Kim, J, Kirkland, A, Marks, L
Μορφή:	Journal article
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	2009

Παρόμοια τεκμήρια