Wen, Y., Ophus, C., Allen, C., Fang, S., Chen, J., Kaxiras, E., . . . Warner, J. (2019). Simultaneous identification of low and high atomic number atoms in monolayer 2D materials using 4D scanning transmission electron microscopy. American Chemical Society.
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերումWen, Y., C. Ophus, CS Allen, S. Fang, J. Chen, E. Kaxiras, AI Kirkland, and JH Warner. Simultaneous Identification of Low and High Atomic Number Atoms in Monolayer 2D Materials Using 4D Scanning Transmission Electron Microscopy. American Chemical Society, 2019.
MLA (9րդ խմբ.) ՄեջբերումWen, Y., et al. Simultaneous Identification of Low and High Atomic Number Atoms in Monolayer 2D Materials Using 4D Scanning Transmission Electron Microscopy. American Chemical Society, 2019.
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.