Wen, Y., Ophus, C., Allen, C., Fang, S., Chen, J., Kaxiras, E., . . . Warner, J. (2019). Simultaneous identification of low and high atomic number atoms in monolayer 2D materials using 4D scanning transmission electron microscopy. American Chemical Society.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Wen, Y., C. Ophus, CS Allen, S. Fang, J. Chen, E. Kaxiras, AI Kirkland, i JH Warner. Simultaneous Identification of Low and High Atomic Number Atoms in Monolayer 2D Materials Using 4D Scanning Transmission Electron Microscopy. American Chemical Society, 2019.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Wen, Y., et al. Simultaneous Identification of Low and High Atomic Number Atoms in Monolayer 2D Materials Using 4D Scanning Transmission Electron Microscopy. American Chemical Society, 2019.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..