Wen, Y., Ophus, C., Allen, C., Fang, S., Chen, J., Kaxiras, E., . . . Warner, J. (2019). Simultaneous identification of low and high atomic number atoms in monolayer 2D materials using 4D scanning transmission electron microscopy. American Chemical Society.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Wen, Y., C. Ophus, CS Allen, S. Fang, J. Chen, E. Kaxiras, AI Kirkland, và JH Warner. Simultaneous Identification of Low and High Atomic Number Atoms in Monolayer 2D Materials Using 4D Scanning Transmission Electron Microscopy. American Chemical Society, 2019.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Wen, Y., et al. Simultaneous Identification of Low and High Atomic Number Atoms in Monolayer 2D Materials Using 4D Scanning Transmission Electron Microscopy. American Chemical Society, 2019.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.