Minority carrier lifetime in silicon photovoltaics: The effect of oxygen precipitation
Single-crystal Czochralski silicon used for photovoltaics is typically supersaturated with interstitial oxygen at temperatures just below the melting point. Oxide precipitates therefore can form during ingot cooling and cell processing, and nucleation sites are typically vacancy-rich regions. Oxygen...
Հիմնական հեղինակներ: | Murphy, J, McGuire, R, Bothe, K, Voronkov, V, Falster, R |
---|---|
Ձևաչափ: | Journal article |
Հրապարակվել է: |
Elsevier
2014
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Minority carrier lifetime in silicon photovoltaics: The effect of oxygen precipitation
: Murphy, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2014) -
The impact of oxide precipitates on minority carrier lifetime in Czochralski silicon
: Murphy, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2012) -
Minority carrier lifetime in Czochralski silicon containing oxide precipitates
: Murphy, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2010) -
The effect of oxide precipitates on minority carrier lifetime in p-type silicon
: Murphy, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2011) -
Parameterisation of injection-dependent lifetime measurements in semiconductors in terms of Shockley-Read-Hall statistics: An application to oxide precipitates in silicon
: Murphy, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)