Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-ST...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-STATE REACTIONS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:
Smith, G
פורמט:
Journal article
שפה:
English
יצא לאור:
1987
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
מאת: Miller, M, et al.
יצא לאור: (1994)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1985)
TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
מאת: Beaven, P, et al.
יצא לאור: (1980)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
מאת: Godfrey, T, et al.
יצא לאור: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
מאת: Smith, G, et al.
יצא לאור: (1994)