Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-ST...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-STATE REACTIONS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Бібліографічні деталі
Автор:
Smith, G
Формат:
Journal article
Мова:
English
Опубліковано:
1987
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1994)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1985)
TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
за авторством: Beaven, P, та інші
Опубліковано: (1980)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
за авторством: Godfrey, T, та інші
Опубліковано: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
за авторством: Smith, G, та інші
Опубліковано: (1994)