Tweddle, D., & Moody, M. (2019). Atom probe tomography of crystallographic defects in silicon.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Tweddle, D., e M. Moody. Atom Probe Tomography of Crystallographic Defects in Silicon. 2019.
Citação MLA (9ª ed.)Tweddle, D., e M. Moody. Atom Probe Tomography of Crystallographic Defects in Silicon. 2019.
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