X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. I. Direct beam case

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Ludwig, W, Schmidt, S, Lauridsen, E, Poulsen, H
Ձևաչափ: Conference item
Հրապարակվել է: 2008