Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
X-ray diffraction contrast to...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. I. Direct beam case
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Ludwig, W
,
Schmidt, S
,
Lauridsen, E
,
Poulsen, H
Định dạng:
Conference item
Được phát hành:
2008
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. II. The combined case
Bằng: Johnson, G, et al.
Được phát hành: (2008)
Three-dimensional x-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics /
Bằng: 193559 Poulsen, Henning F.
Được phát hành: (2004)
Three-dimensional grain mapping by x-ray diffraction contrast tomography and the use of Friedel pairs in diffraction data analysis.
Bằng: Ludwig, W, et al.
Được phát hành: (2009)
X-ray coherent diffraction imaging with an objective lens: Towards three-dimensional mapping of thick polycrystals
Bằng: A. F. Pedersen, et al.
Được phát hành: (2020-07-01)
Non-destructive analysis of micro texture and grain boundary character from X-ray diffraction contrast tomography
Bằng: King, A, et al.
Được phát hành: (2010)