Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
DETERMINATION OF THE NATURE OF...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
DETERMINATION OF THE NATURE OF STACKING-FAULT TETRAHEDRA IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER BY HIGH-RESOLUTION STRUCTURAL IMAGING
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Sigle, W
,
Jenkins, M
,
Hutchison, J
Format:
Journal article
Publicat:
1988
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
EVIDENCE FOR STACKING-FAULT TETRAHEDRA FORMED FROM SELF-INTERSTITIALS IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER
per: Hardy, G, et al.
Publicat: (1985)
Electron microscope weak-beam imaging of stacking fault tetrahedra: observations and simulations
per: Jenkins, M, et al.
Publicat: (2006)
The role of stacking fault tetrahedra on void swelling in irradiated copper
per: Ziang Yu, et al.
Publicat: (2024-04-01)
Electronically decoupled stacking fault tetrahedra embedded in Au(111) films
per: Koen Schouteden, et al.
Publicat: (2016-12-01)
Simple Closed Quasigeodesics on Tetrahedra
per: Joseph O’Rourke, et al.
Publicat: (2022-05-01)