Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
DETERMINATION OF THE NATURE OF...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
DETERMINATION OF THE NATURE OF STACKING-FAULT TETRAHEDRA IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER BY HIGH-RESOLUTION STRUCTURAL IMAGING
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Sigle, W
,
Jenkins, M
,
Hutchison, J
Ձևաչափ:
Journal article
Հրապարակվել է:
1988
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
EVIDENCE FOR STACKING-FAULT TETRAHEDRA FORMED FROM SELF-INTERSTITIALS IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER
: Hardy, G, և այլն
Հրապարակվել է: (1985)
Electron microscope weak-beam imaging of stacking fault tetrahedra: observations and simulations
: Jenkins, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)
The role of stacking fault tetrahedra on void swelling in irradiated copper
: Ziang Yu, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-04-01)
Electronically decoupled stacking fault tetrahedra embedded in Au(111) films
: Koen Schouteden, և այլն
Հրապարակվել է: (2016-12-01)
Simple Closed Quasigeodesics on Tetrahedra
: Joseph O’Rourke, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-05-01)