Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
DETERMINATION OF THE NATURE OF...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
DETERMINATION OF THE NATURE OF STACKING-FAULT TETRAHEDRA IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER BY HIGH-RESOLUTION STRUCTURAL IMAGING
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Sigle, W
,
Jenkins, M
,
Hutchison, J
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
1988
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
EVIDENCE FOR STACKING-FAULT TETRAHEDRA FORMED FROM SELF-INTERSTITIALS IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER
Bằng: Hardy, G, et al.
Được phát hành: (1985)
Electron microscope weak-beam imaging of stacking fault tetrahedra: observations and simulations
Bằng: Jenkins, M, et al.
Được phát hành: (2006)
The role of stacking fault tetrahedra on void swelling in irradiated copper
Bằng: Ziang Yu, et al.
Được phát hành: (2024-04-01)
Electronically decoupled stacking fault tetrahedra embedded in Au(111) films
Bằng: Koen Schouteden, et al.
Được phát hành: (2016-12-01)
Simple Closed Quasigeodesics on Tetrahedra
Bằng: Joseph O’Rourke, et al.
Được phát hành: (2022-05-01)