Salta al contenuto
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Lingua
Tutti i Campi
Titolo
Autore
Soggetto
Collocazione
ISBN/ISSN
Tag
Cerca
Avanzata
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN...
Citazione
Invia SMS
Invia email
Stampa
Esporta il record
Esporta a RefWorks
Esporta a EndNoteWeb
Esporta a EndNote
PLink permanente
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN-SITU X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
Dettagli Bibliografici
Autori principali:
Wark, J
,
Woolsey, N
Natura:
Conference item
Pubblicazione:
1994
Posseduto
Descrizione
Documenti analoghi
MARC21
Descrizione
Riassunto:
Documenti analoghi
SIMULATED X-RAY STREAK CAMERA DATA OF IN-SITU DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED SINGLE-CRYSTALS
di: Woolsey, N, et al.
Pubblicazione: (1994)
Modeling of time resolved x-ray diffraction from laser-shocked crystals
di: Woolsey, N, et al.
Pubblicazione: (1997)
SUBNANOSECOND X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
di: Wark, J, et al.
Pubblicazione: (1989)
Time resolved x-ray diffraction from shock-compressed solids
di: Wark, J, et al.
Pubblicazione: (1995)
X-ray diffraction studies of laser-shocked crystals
di: McGonegle, D
Pubblicazione: (2016)