Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN-SITU X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Wark, J
,
Woolsey, N
Formatua:
Conference item
Argitaratua:
1994
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
SIMULATED X-RAY STREAK CAMERA DATA OF IN-SITU DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED SINGLE-CRYSTALS
nork: Woolsey, N, et al.
Argitaratua: (1994)
Modeling of time resolved x-ray diffraction from laser-shocked crystals
nork: Woolsey, N, et al.
Argitaratua: (1997)
SUBNANOSECOND X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
nork: Wark, J, et al.
Argitaratua: (1989)
Time resolved x-ray diffraction from shock-compressed solids
nork: Wark, J, et al.
Argitaratua: (1995)
X-ray diffraction studies of laser-shocked crystals
nork: McGonegle, D
Argitaratua: (2016)