Microstructural characterisation of spray formed Si-30Al for thermal management applications

This paper presents a study of the microstructure of a spray formed Si-30 wt.%Al alloy used in electronic packaging applications. The microstructure consisted of ~5μ equiaxed primary Si grains and a coarse grained Al-rich phase with occasional regions of ~10 μm equiaxed Al-rich grains interpenetrati...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Hogg, S, Lambourne, A, Ogilvy, A, Grant, P
Ձևաչափ: Journal article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Elsevier 2006
Խորագրեր:
Նկարագրություն
Ամփոփում:This paper presents a study of the microstructure of a spray formed Si-30 wt.%Al alloy used in electronic packaging applications. The microstructure consisted of ~5μ equiaxed primary Si grains and a coarse grained Al-rich phase with occasional regions of ~10 μm equiaxed Al-rich grains interpenetrating the Si network with no evidence of a lamellar Al-Si eutectic. This unusual microstructure arose because of the particular solidification conditions during and immediately after the spray forming process and the large alloy freezing range.