Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
EXPERIMENTAL TESTS ON DOUBLE-R...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
EXPERIMENTAL TESTS ON DOUBLE-RESOLUTION COHERENT IMAGING VIA STEM
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Rodenburg, J
,
Mccallum, B
,
Nellist, P
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
1993
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
IMAGE-RESOLUTION IMPROVEMENT USING COHERENT MICRODIFFRACTION IN STEM
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (1993)
Direct measurement of the effective source coherence in STEM
door: Mccallum, B, et al.
Gepubliceerd in: (1994)
STEM imaging of <110> tetrahedral semiconductors
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (1994)
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (1995)
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (1998)