Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
EXPERIMENTAL TESTS ON DOUBLE-R...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
EXPERIMENTAL TESTS ON DOUBLE-RESOLUTION COHERENT IMAGING VIA STEM
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Rodenburg, J
,
Mccallum, B
,
Nellist, P
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
1993
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
IMAGE-RESOLUTION IMPROVEMENT USING COHERENT MICRODIFFRACTION IN STEM
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1993)
Direct measurement of the effective source coherence in STEM
Bằng: Mccallum, B, et al.
Được phát hành: (1994)
STEM imaging of <110> tetrahedral semiconductors
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1994)
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1995)
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1998)