$High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction$

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)

<p style="text-align:justify;"> The angular resolution of electron backscatter diffraction (EBSD) measurements can be significantly improved using an analysis based on determination of small shifts in features from one pattern to the next using cross-correlation functions. Using pat...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D
Ձևաչափ:	Journal article
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	Taylor and Francis 2013

Նմանատիպ նյութեր

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
‌: Dingley, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2006)

Strain mapping using high-resolution electron backscatter diffraction technique: The influence of sample preparation
‌: Nowakowski Pawel, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-01-01)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
‌: Vilalta-Clemente, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
‌: Vilalta-Clemente, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

In situ characterisation of the strain fields of intragranular slip bands in ferrite by high-resolution electron backscatter diffraction
‌: Koko, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2022)

High-angular resolution electron backscatter diffraction as a new tool for mapping lattice distortion in geological minerals
‌: Wallis, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2019)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
‌: Tong, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
‌: Kamaya, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)

Adaptable physics-based super-resolution for electron backscatter diffraction maps
‌: Devendra K. Jangid, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-12-01)

Geometrically necessary dislocation densities in olivine obtained using high-angular resolution electron backscatter diffraction
‌: Wallis, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2016)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1997)

An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)
‌: Koko, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2023)

Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2016)

Quantification of plastic strain of stainless steel and nickel alloy by electron backscatter diffraction
‌: Kamaya, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Probing deformation and revealing microstructural mechanisms with cross-correlation-based, high-resolution electron backscatter diffraction
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
‌: Tong, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2018)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements
‌: Tong, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: effects of detector binning and step size.
‌: Jiang, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

High resolution electron backscatter diffraction study on the heterogeneities of tetragonal distortion in Fe-C martensite at the microstructural scale
‌: Tanaka, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2020)

J-integral analysis of the elastic strain fields of ferrite deformation twins using electron backscatter diffraction
‌: Koko, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2021)

A high resolution electron backscatter diffraction study of heterogeneous deformation in polycrystal copper
‌: Jiang, J
Հրապարակվել է: (2013)

Quantitative imaging of anti-phase domains by polarity sensitive orientation mapping using electron backscatter diffraction
‌: Naresh-Kumar, G, և այլն
Հրապարակվել է: (2017)

Quantitative imaging of anti-phase domains by polarity sensitive orientation mapping using electron backscatter diffraction
‌: G. Naresh-Kumar, և այլն
Հրապարակվել է: (2017-09-01)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
‌: K.K. Dikhanbayev, և այլն
Հրապարակվել է: (2016-10-01)