$High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction$

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction

Показати інші версії (1)

<p style="text-align:justify;"> The angular resolution of electron backscatter diffraction (EBSD) measurements can be significantly improved using an analysis based on determination of small shifts in features from one pattern to the next using cross-correlation functions. Using pat...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	Taylor and Francis 2013

Схожі ресурси

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
за авторством: Dingley, D, та інші
Опубліковано: (2010)

Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)

Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2010)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2011)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2012)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

Strain mapping using high-resolution electron backscatter diffraction technique: The influence of sample preparation
за авторством: Nowakowski Pawel, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
Опубліковано: (2015)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
Опубліковано: (2015)

In situ characterisation of the strain fields of intragranular slip bands in ferrite by high-resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2022)

High-angular resolution electron backscatter diffraction as a new tool for mapping lattice distortion in geological minerals
за авторством: Wallis, D, та інші
Опубліковано: (2019)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2015)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
за авторством: Kamaya, M, та інші
Опубліковано: (2005)

Adaptable physics-based super-resolution for electron backscatter diffraction maps
за авторством: Devendra K. Jangid, та інші
Опубліковано: (2022-12-01)

Geometrically necessary dislocation densities in olivine obtained using high-angular resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Wallis, D, та інші
Опубліковано: (2016)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1997)

An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2023)

Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2016)

Quantification of plastic strain of stainless steel and nickel alloy by electron backscatter diffraction
за авторством: Kamaya, M, та інші
Опубліковано: (2006)

Probing deformation and revealing microstructural mechanisms with cross-correlation-based, high-resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2018)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2015)

Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: effects of detector binning and step size.
за авторством: Jiang, J, та інші
Опубліковано: (2013)

High resolution electron backscatter diffraction study on the heterogeneities of tetragonal distortion in Fe-C martensite at the microstructural scale
за авторством: Tanaka, T, та інші
Опубліковано: (2020)

J-integral analysis of the elastic strain fields of ferrite deformation twins using electron backscatter diffraction
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2021)

A high resolution electron backscatter diffraction study of heterogeneous deformation in polycrystal copper
за авторством: Jiang, J
Опубліковано: (2013)

Quantitative imaging of anti-phase domains by polarity sensitive orientation mapping using electron backscatter diffraction
за авторством: Naresh-Kumar, G, та інші
Опубліковано: (2017)

Quantitative imaging of anti-phase domains by polarity sensitive orientation mapping using electron backscatter diffraction
за авторством: G. Naresh-Kumar, та інші
Опубліковано: (2017-09-01)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
за авторством: K.K. Dikhanbayev, та інші
Опубліковано: (2016-10-01)