Glaisher, R., & Cockayne, D. (1993). CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING.
Style de citation Chicago (17e éd.)Glaisher, R., et D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.
Style de citation MLA (9e éd.)Glaisher, R., et D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.