Glaisher, R., & Cockayne, D. (1993). CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Glaisher, R., و D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Glaisher, R., و D. Cockayne. CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING. 1993.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.